太陽能電池光譜測試系統采用模組化設計，緊扣用戶需求，經濟靈活，適用面廣，升級、改造、維護均很方便，可選大功率鹵鎢燈及大功率氙燈光源，也可使用用戶已有或指定的光源，保證良好的波長準確度和重復性，消除多級譜的影響，雜散光小，接下來小編就太陽能電池檢測的基礎知識為大家做一個簡單介紹。

1、標準測試(shi)條(tiao)件和(he)標準太陽能(neng)電(dian)池(chi)

為(wei)(wei)了使太(tai)(tai)(tai)陽(yang)能(neng)電(dian)池(chi)或組件(jian)(jian)的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)伏(fu)性(xing)能(neng)測(ce)(ce)(ce)試具有可比(bi)性(xing)，太(tai)(tai)(tai)陽(yang)光(guang)(guang)(guang)(guang)伏(fu)能(neng)源系統標(biao)(biao)(biao)準化技術委員會規定了標(biao)(biao)(biao)準測(ce)(ce)(ce)試條件(jian)(jian)。如果(guo)不是在標(biao)(biao)(biao)準條件(jian)(jian)下進(jin)行測(ce)(ce)(ce)試，必須將所測(ce)(ce)(ce)數(shu)據修正(zheng)到標(biao)(biao)(biao)準測(ce)(ce)(ce)試條件(jian)(jian)。地面用(yong)太(tai)(tai)(tai)陽(yang)能(neng)電(dian)池(chi)的(de)標(biao)(biao)(biao)準測(ce)(ce)(ce)試條件(jian)(jian)為(wei)(wei)：測(ce)(ce)(ce)試溫度25±2℃，光(guang)(guang)(guang)(guang)源的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜輻照(zhao)度1000W/m2，并(bing)具有標(biao)(biao)(biao)準的(de)AM1.5 太(tai)(tai)(tai)陽(yang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜輻照(zhao)度分布(bu)。航天用(yong)太(tai)(tai)(tai)陽(yang)能(neng)電(dian)池(chi)的(de)標(biao)(biao)(biao)準測(ce)(ce)(ce)試條件(jian)(jian)為(wei)(wei)：測(ce)(ce)(ce)試溫度25±1℃，光(guang)(guang)(guang)(guang)源的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜輻照(zhao)度1367W/m2，并(bing)具有標(biao)(biao)(biao)準的(de)AM0 太(tai)(tai)(tai)陽(yang)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜輻照(zhao)度分布(bu)。

由(you)于(yu)(yu)太(tai)(tai)陽能(neng)電(dian)(dian)池(chi)(chi)的(de)響應與入射(she)光的(de)波長有(you)關(guan)，入射(she)光的(de)光譜(pu)分布將嚴重(zhong)地影響所測(ce)(ce)的(de)電(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)。為了(le)減(jian)小測(ce)(ce)量誤差(cha)，需選用具有(you)與被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)基本相同光譜(pu)響應的(de)標準(zhun)太(tai)(tai)陽能(neng)電(dian)(dian)池(chi)(chi)來測(ce)(ce)量光源(yuan)的(de)輻照(zhao)度。因此，標準(zhun)太(tai)(tai)陽能(neng)電(dian)(dian)池(chi)(chi)用于(yu)(yu)I-V 測(ce)(ce)試系(xi)統(tong)光源(yuan)輻照(zhao)度的(de)測(ce)(ce)試。它只(zhi)需要(yao)標定(ding)在標準(zhun)測(ce)(ce)試條件下的(de)短路電(dian)(dian)流值。如(ru)果(guo)標準(zhun)太(tai)(tai)陽能(neng)電(dian)(dian)池(chi)(chi)標定(ding)出相對(dui)(dui)或絕對(dui)(dui)光譜(pu)響應曲線，那么它也可以用于(yu)(yu)太(tai)(tai)陽能(neng)電(dian)(dian)池(chi)(chi)光譜(pu)響應測(ce)(ce)試。

2、譜響應及量(liang)子效率測試(shi)（QE）

太陽能(neng)(neng)電(dian)池(chi)電(dian)性(xing)能(neng)(neng)測量(liang)中，光譜(pu)響(xiang)應特(te)性(xing)包含著太陽能(neng)(neng)電(dian)池(chi)的(de)許(xu)多重要(yao)信(xin)息。它(ta)不但能(neng)(neng)反映(ying)電(dian)池(chi)各(ge)層材(cai)料質量(liang)，也反映(ying)減(jian)反膜(mo)質量(liang)、輻照損傷和各(ge)個界面(mian)層的(de)質量(liang)。外(wai)量(liang)子(zi)(zi)效率(lv)(External Quantum Efficiency, EQE）當光子(zi)(zi)入(ru)射(she)到光敏器件的(de)表面(mian)時，部分光子(zi)(zi)會激發光敏材(cai)料產生電(dian)子(zi)(zi)空穴對(dui)，形成電(dian)流，此時產生的(de)電(dian)子(zi)(zi)與所(suo)有入(ru)射(she)的(de)光子(zi)(zi)數之比，稱為外(wai)量(liang)子(zi)(zi)效率(lv)

3、內量子效率(Internal quantum efficiency, IQE)

當光(guang)(guang)子(zi)入射(she)到光(guang)(guang)敏器件的表(biao)面時，被吸(xi)(xi)收(shou)的那部分光(guang)(guang)子(zi)會(hui)激發光(guang)(guang)敏材料會(hui)產(chan)生電(dian)(dian)子(zi)空穴對，形(xing)成電(dian)(dian)流，此時產(chan)生的電(dian)(dian)子(zi)與(yu)被吸(xi)(xi)收(shou)的光(guang)(guang)子(zi)之比，稱為內量(liang)子(zi)效率。

4、光電轉化效(xiao)率（Monochromatic incident photon-toelectronconversion efficiency, IPCE）

光電(dian)轉化(hua)(hua)效率(lv)，即(ji)入(ru)射(she)單色光子- 電(dian)子轉化(hua)(hua)效率(lv)，定義為單位時間內外(wai)電(dian)路中產(chan)生的電(dian)子數(shu)Ne 與單位時間內的入(ru)射(she)單色光子數(shu)Np 之比。IPCE 常用于光電(dian)化(hua)(hua)學(xue)的應用，如染料敏(min)化(hua)(hua)太陽(yang)能電(dian)池等。在概念上IPCE 與EQE 是類(lei)似的。

5、光伏(fu)電流-電壓特(te)性(xing)測試（I-V特(te)性(xing)測試）

太陽能(neng)(neng)(neng)(neng)電(dian)(dian)池是(shi)直接把光(guang)能(neng)(neng)(neng)(neng)轉換成電(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)(neng)的光(guang)伏(fu)器(qi)件，對電(dian)(dian)池的評估(gu)主要是(shi)以其光(guang)電(dian)(dian)性(xing)能(neng)(neng)(neng)(neng)為準。IV 特性(xing)測試(shi)是(shi)最(zui)直接的給出太陽能(neng)(neng)(neng)(neng)電(dian)(dian)池光(guang)電(dian)(dian)性(xing)能(neng)(neng)(neng)(neng)參數的測試(shi)。