半自動探針臺優勢適用于多種晶圓量測應用

? 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV

? 射(she)頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上(shang)

? 失(shi)效分析 - 探針卡 / 節間(jian)探測

? 可靠性(xing)測試 - 熱/ 冷(leng) / 長時(shi)間(jian)測試

? 高(gao)功(gong)率(lv)測試(shi) - 至(zhi)高(gao) 10 kV / 600 A

MPI ShielDEnvironment? 屏蔽環境

? 專為(wei) EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽(bi)所(suo)設計的精密量測環境

? 支持飛(fei)安級低漏電值量測(ce)

? 支持溫度范圍 -60 °C 至 300 °C