1）主要(yao)技術參數：

2中心波長(chang)精度(du)：優于±1nm；

2峰值(zhi)波長精度(du)：優于±1nm；

2光譜帶(dai)寬測量精(jing)度：優于±0.5nm；

2相對光譜響應(ying)度測量精(jing)度：優于±2%；

2非均勻性(xing)標定誤差(cha)：優于(yu)±1%；

2像素不均勻性測量精(jing)度：1%；

2）應用領域：

2線/面陣/TDI CCD以及CMOS等陣列光電探測器的光譜/輻射響應性能測試和標定。

3）成功(gong)應用(yong)案例：

2中(zhong)科院(yuan)新疆某研(yan)究所

2航天某院某研(yan)究所(suo)

2西北(bei)某大學

4）產(chan)品(pin)實物(wu)圖片：

↑↑ 航天某院某所(suo)敏感器(qi)大面陣CCD關鍵參數測(ce)量系統(tong)實物(wu)圖片

↑↑ 中科院新疆(jiang)某(mou)研究所(suo)CCD光(guang)電參數測(ce)試設備(bei)實物圖(tu)片

↑↑ 紅外探測器光譜響(xiang)應測試系統原理/結(jie)構(gou)圖

↑↑ 紅(hong)外探測(ce)器(qi)光譜響應測(ce)試系統實物圖片